回收4338B 回收Agilent4338B毫歐表
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安捷倫4338B 毫歐表多樣功能
疊加直流:在測(cè)量端可能給出±42Vdc(大值)
存儲(chǔ)/調(diào)用:可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器對(duì)10種儀器設(shè)置進(jìn)行存儲(chǔ)/調(diào) 用
連續(xù)存儲(chǔ)功能:若儀器被切斷或發(fā)生電源故障,儀器設(shè)置將自動(dòng)被存 儲(chǔ)起來(lái)(在23±5℃時(shí)≤72小時(shí))
HP-IB接口:所有控制設(shè)置、被測(cè)值和比較器信息
處理器接口:所有輸出信號(hào)為負(fù)邏輯,光隔離開路集電極
輸出信號(hào)包括:高/符合/低、變址,測(cè)量結(jié)束和告警。輸入信號(hào)是健鎖定和外觸發(fā)
Agilent 4338B 4 毫歐表,1 kHz 狀態(tài):已停產(chǎn)
Agilent 4338B附件:
1CM019A 上架鑲條套件 88.1毫米(高)(2U)一個(gè)支架,一個(gè)1/4模塊支架
1CN006A 把手套件 88.1 毫米(高)(2U)--兩個(gè)前把手
42030A 四端子對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電阻套件
42091A 短路端子(4 端子對(duì))
82357B 支持高速 USB 2.0 的 USB/GPIB 接口適配線
Agilent4338B一般指標(biāo)
電源要求:198-264V,47-66Hz,45VAmax
尺寸:320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長(zhǎng))
重量:4.5kg 工作溫度:0°~45℃
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4338B簡(jiǎn)單信息: 專用電阻表,頻率范圍僅1KHz,基本阻抗精度0.4%,阻抗范圍10nΩ~100KΩ
·測(cè)試信號(hào)電流低且可選擇:1μA~10mA
·測(cè)量范圍寬:10μΩ~100kΩ
·分辨率:10μΩ ·接觸檢查功能 ·1kHz交流測(cè)量
·測(cè)量速度高:34ms ·內(nèi)設(shè)比較器 ·自動(dòng)測(cè)量方式
4338B毫歐表是一臺(tái)精密、可靠、高速的測(cè)量?jī)x器,用于低阻測(cè)量。
在低電流電路中,機(jī)電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問(wèn)題。HP 4338B提供可選擇的低交流測(cè)試信號(hào)(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來(lái)表征機(jī)電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來(lái)確定繼電器、開關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測(cè)試中的**號(hào)是檢查電池內(nèi)阻的好方法,因?yàn)樗苊饬酥绷髂芰康南摹?nbsp;
高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動(dòng)處理器和外部計(jì)算機(jī)構(gòu)成一個(gè)測(cè)量系統(tǒng),使生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間縮短到更低限度。
在進(jìn)行大量連續(xù)的測(cè)試、而測(cè)試信號(hào)電平又不是很主要的因素時(shí),自動(dòng)測(cè)量功能會(huì)使儀器選擇合適的測(cè)試信號(hào)并設(shè)定測(cè)量范圍。
技術(shù)指標(biāo)
(全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料)
測(cè)量功能
測(cè)量參數(shù):R(交流電阻),X(電抗),L(電感),|Z|(阻抗),θ(相位[°])
組合參數(shù):R,R-X,R-L,|Z|-θ(只適用于串聯(lián)模式)
數(shù)學(xué)功能:偏差和相對(duì)偏差(以百分比表示)
顯示數(shù)字:3.4或5位(可選擇)
測(cè)試信號(hào)特性
測(cè)試頻率:1kHz 頻率精度:±0.1% 電平精度:±(10%+0.2μA)
測(cè)試信號(hào)電平:1μA,10μA,100μA,1mA,10mArms
樣品兩端的大電壓:在任何情況下大到20mV峰值
測(cè)量范圍
參數(shù) 測(cè)量范圍
R 10μΩ~100kΩ
X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值)
L 10nH~10H(典型值)
θ -180°~+180°(典型值)
測(cè)量精度:R的基本精度為±0.4%
測(cè)量時(shí)間:從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測(cè)量(EOM)信號(hào)輸出的時(shí)間間隔
模式時(shí)間(典型值) :短:34ms 中等:70ms 長(zhǎng):900ms
修正功能 :短路誤差為0:消除由測(cè)試夾具中雜散寄生阻抗引的測(cè)量誤差
比較功能:對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限
接觸檢查功能:可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障
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